HAST试验箱与高低温试验之间的区别看完你就懂了

点击次数：1263 更新时间：2020-07-15

　　目前，在集成电路IC领域，环境可靠性测试设备主要有高低温试验箱以及HAST试验箱。但为什么HAST试验箱会成为集成电路IC可靠性测试的佳选呢?两个试验箱之间的区别究竟在哪呢?下面就让我们一起来了解一下吧。

　　这由于HAST试验箱结合压力、湿度、湿度条件的高加速试验，在高压条件下加速湿气渗透到外外部保护物料(塑封料或丝印)或沿外保护物料与金属导电层之间界面渗入，本测试用于识别封装内部的失效机制，并且是破坏性的。

　　高低温试验箱可分为高低温运行测试、高低温贮存测试、高低温交变测试、高低温循环测试、温度冲击测试等，虽然可测试的项目较多，可测试集成电路IC在不同温度条件下的使用寿命。

　　但只是单一的温湿度测试不够准确的测试产品在气压下的使用情况。而HAST试验箱测试集温度-湿度-压力(非饱和可调)一体，多方面测试集成电路IC，评估产品的失效机制。

　　高低温试验箱的产品优势：

　　1、极限测试温度可达300℃，低温-200℃，电耗低;

　　2、低温长期1000小时以上不结霜;

　　3、可编程控制，可通过互联网、WIFI、手机APP等监控设备运行情况。

　　HAST试验箱的产品优势：

　　1、湿度可调式温度-湿度-压力一体试验设备，测试稳定性高;

　　2、可配置多个测试端口供给用户产品带电测试;

　　3、设备升温时自动预排空气洁净度，确保箱内纯净度;

　　4、箱体采用耐高压设计技术，确保设备、操作人员安全。

　　那么在看完上述内容之后大家是否对这两个试验箱有更多的了解呢?那么在两者之间的选择上就不用我们多说相信各位心里已经有更好的答案了。